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更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS
現(xiàn)在聯(lián)系
PSS光阻法粒度儀

PSS光阻法粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp Z3000 ZetaZETA電位分析儀

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更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp 380 N3000納米激光粒度儀

納米激光粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp 380 N3000
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀

專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析儀器型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀工作原理：粒度檢測(cè)：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
現(xiàn)在聯(lián)系

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