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ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項(xiàng)如下：操作流程：樣品準(zhǔn)備：選擇適當(dāng)?shù)臉悠愤M(jìn)行測(cè)試，并根據(jù)需要將其稀釋到適當(dāng)?shù)臐舛取４_保樣品溶液均勻混合，并盡量避免產(chǎn)生氣泡或顆粒物。儀器設(shè)置：按照Z(yǔ)eta電位分析儀的說(shuō)明書，正確設(shè)置儀器參數(shù)。這包括電解池的尺寸、電極類型、溫度和測(cè)量范圍等。確保所有的設(shè)置都與實(shí)際情況相符。校準(zhǔn)儀器：在開始實(shí)際測(cè)試之前，應(yīng)該進(jìn)行儀器的校準(zhǔn)。......
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ZETA電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀，是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來(lái)分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機(jī)，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0、001%到......
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不溶性微粒（英文名：Sub-visibleParticle/Particulatematter）與可見(jiàn)異物（VisibleParticle）相對(duì)應(yīng)，意指不溶于水和有機(jī)溶劑，非代謝性的，肉眼所看不見(jiàn)的顆粒物。一般指的是粒徑＜50μm的微粒。不溶性微粒檢查，藥典規(guī)定了兩種方法，第一法是光阻法，第二法是顯微計(jì)數(shù)法。光阻法收錄......
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光阻法粒度儀一般是由激光器、透鏡、光電接收器陣列、信號(hào)轉(zhuǎn)換與傳輸系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。激光器發(fā)出的激光束，經(jīng)濾波、擴(kuò)束、準(zhǔn)直后變成一束平行光，在該平行光束沒(méi)有照射到顆粒的情況下，光束經(jīng)過(guò)透鏡后將其匯聚到焦點(diǎn)上。當(dāng)通過(guò)某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束路徑中時(shí)，激光束經(jīng)過(guò)顆粒時(shí)將發(fā)生衍射或散射現(xiàn)象......
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高壓乳化設(shè)備適用于精細(xì)的乳化、高品質(zhì)的分散及率的混合，刮壁攪拌物料翻滾*，真正符合GMP標(biāo)準(zhǔn)。高壓乳化設(shè)備采用不銹鋼制作而成，體積小，重量輕，造型美觀。高壓乳化設(shè)備鍋體內(nèi)部各連接處均采用平滑園弧過(guò)度，鍋底放料以及傾倒放料保證鍋內(nèi)無(wú)殘料；高剪切均質(zhì)頭，定轉(zhuǎn)子結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為爪式對(duì)偶咬合，物料從定轉(zhuǎn)子的上部與下部同時(shí)吸入，剪切概......
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